11月4~5日，外貌高灵敏度光谱学国际研讨会在天津大学举行，来自中国、奥地利、德国、意大利、罗马尼亚和墨西哥等国专家学者以高灵敏度光谱学为切入点，就外貌的光学表征技术与科学应用研究，特别是纳米尺度光学表征学和新型质料与功效结构等前沿领域的科学生长进行深入、广泛的学术研讨。
开幕式上，大会中方主席天津大学原副校长、仪器科学与技术学科卖力人胡小唐教授和外方主席约翰斯开普勒大学Peter Zeppenfeld教授分别致辞，在回顾了近十年来依托各方优势所开展的紧密合作和取得的丰硕结果之后，配合希望本次会议能够成为高端技术、科学应用和基础研究三方学者配合探讨，开拓思路，建立深条理合作平台的一次会议，从而促进应用研究与基础研究的进一步融合。
德国耶拿大学固体物理研究所Torsten Fritz教授、意大利罗马第三大学Olivia Pulci教授、德国莱布尼兹技术大学物理系Georgeta Salvan教授等9位学者作了精彩的特邀陈诉。天津大学精密仪器与光电子工程学院胡春景副教授也应邀在大会作了特邀陈诉。
本次会议由天津大学和奥地利约翰斯开普勒大学联合提倡，天津大学测试计量技术及仪器国家重点实验室承办�；嵋榈玫街泄易匀豢蒲Щ鹞碌乩费翘窖蟠笱Я俗橹‥urasia-Pacific Uninet）、王宽诚教育基金会、微米/纳米科学与技术创新引智基地等官方机构和学术组织的联合资助。